Sztuczna inteligencja rewolucjonizuje analizę patentów. Nowe narzędzie identyfikuje niezbadane obszary technologiczne.

Tradycyjne metody analizy patentowej, choć wartościowe, często napotykają trudności w precyzyjnym definiowaniu i interpretowaniu luk technologicznych. Identyfikacja 'pustych miejsc’ na mapach patentowych, reprezentujących potencjalne obszary innowacji, była dotychczas procesem żmudnym i wymagającym.

Zespół badaczy z Korei Południowej i Stanów Zjednoczonych, pod kierownictwem profesora Hakyeona Lee z Wydziału Inżynierii Przemysłowej na Seoul National University of Science and Technology, opracował nowatorskie podejście, wykorzystujące uczenie maszynowe do generowania abstraktów patentowych. Ich praca, opublikowana w czasopiśmie 'Advanced Engineering Informatics’, prezentuje system, który może przekształcić abstrakcyjne luki patentowe w konkretne, zrozumiałe opisy technologiczne.

Kluczowym elementem tego rozwiązania jest technika inwersji zanurzenia tekstu (text embedding inversion), która przekształca wysokowymiarowe reprezentacje patentów z powrotem do czytelnej formy tekstowej. Proces składa się z kilku etapów: transformacji abstraktów patentowych w wektory, trenowania autoenkodera do projekcji tych wektorów w przestrzeni dwuwymiarowej, tworzenia mapy patentowej, identyfikacji luk i rekonstrukcji ich współrzędnych z powrotem do formy tekstowej.

Profesor Lee podkreśla przełomowy aspekt ich badań: 'Najbardziej rewolucyjnym aspektem naszej pracy jest zdolność do przekształcania abstrakcyjnych luk patentowych w konkretne, zrozumiałe opisy technologiczne. W przeciwieństwie do wcześniejszych metod, które mogły jedynie identyfikować puste miejsca na mapach patentowych, nie wyjaśniając ich znaczenia, ten system AI może wskazać lokalizację na mapie patentowej i natychmiast wygenerować szczegółowy abstrakt opisujący konkretną technologię, która powinna tam istnieć. To jak posiadanie mapy skarbów, która nie tylko pokazuje puste miejsca, ale także ujawnia, jaki skarb kryje się pod każdym z nich’.

Skuteczność systemu została zademonstrowana na przykładzie technologii LiDAR, analizując ponad 17 tysięcy patentów. Wyniki pokazały, że narzędzie potrafi skutecznie identyfikować luki patentowe i tłumaczyć je na zrozumiały język, co czyni je obiecującym narzędziem do analizy możliwości technologicznych.

Implikacje tego rozwiązania są szerokie. Prof. Lee uważa, że może ono zdemokratyzować prognozowanie innowacji, umożliwiając małym startupom konkurowanie z gigantami technologicznymi, krajom rozwijającym się – przyspieszenie rozwoju technologicznego, a naukowcom – odkrywanie interdyscyplinarnych możliwości badawczych.

Co więcej, trwają prace nad rozszerzeniem systemu, tak aby automatycznie generował szczegółowe propozycje badawcze i pełne dokumenty patentowe, tworząc kompleksowy, oparty na sztucznej inteligencji proces innowacyjny. To obiecująca perspektywa dla przyszłości rozwoju technologicznego.